本次研讨会，将探讨如何进行半导体器件的参数提取与建模，并且通过是德科技先进的提参系统，从实测数据中准确提取半导体的关键参数，并利用这些参数进行精确的器件建模。通过实际样机演示，帮助用户优化设计，提高器件性能。
-建模提参原理及概览
-基于曲线追踪仪系统测量 I-V 和 C-V 特征（静态特征）
-基于双脉冲测试仪PD1550A，进行模型动态参数提取，例如提取开关、反向恢复、栅极电荷、开关自动定位（switching locus）以及许-多其他参数（动态特征）
-建模仿真详解
2024-09-20
23本次研讨会，将探讨如何进行半导体器件的参数提取与建模，并且通过是德科技先进的提参系统，从实测数据中准确提取半导体的关键参数，并利用这些参数进行精确的器件建模。通过实际样机演示，帮助用户优化设计，提高器件性能。
-建模提参原理及概览
-基于曲线追踪仪系统测量 I-V 和 C-V 特征（静态特征）
-基于双脉冲测试仪PD1550A，进行模型动态参数提取，例如提取开关、反向恢复、栅极电荷、开关自动定位（switching locus）以及许-多其他参数（动态特征）
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